高度卡尺的校準需遵循嚴格的規(guī)范流程，涵蓋前期準備、校準實施、結(jié)果處理三個核心環(huán)節(jié)，具體規(guī)范如下：
 

　　一、前期準備
 

　　環(huán)境條件
 

　　溫度：20℃±5℃(避免熱脹冷縮影響精度)。
 

　　濕度：≤80%RH(防止電子元件受潮或金屬部件生銹)。
 

　　清潔度：無振動、無灰塵，確保測量基準面無污染。
 

　　校準工具
 

　　標準量塊：根據(jù)高度卡尺量程選擇0級或1級精度量塊。
 

　　校準平臺：大理石或鑄鐵平臺，平面度誤差≤0.005mm。
 

　　清潔工具：無塵布、酒精(用于清潔卡尺和量塊)。
 

　　記錄工具：校準記錄表、筆。
 

　　設(shè)備檢查
 

　　外觀檢查：確認卡尺無裂紋、銹蝕、劃痕，刻度清晰。
 

　　功能檢查：滑動是否順暢，鎖緊裝置是否有效，數(shù)字顯示是否正常(如為電子卡尺)。
 

　　等溫處理：將卡尺與量塊放置在校準環(huán)境中至少2小時，消除溫度差異。
 

　　二、校準實施
 

　　零位校準
 

　　將高度卡尺的測量爪(或測頭)輕輕接觸平臺表面。
 

　　調(diào)整卡尺零位，使刻度歸零(或數(shù)字顯示為0.00mm)，確保測量爪與平臺表面貼合無間隙。
 

　　重復(fù)3次，取平均值作為零位基準。
 

　　示值誤差校準
 

　　校準點選擇：至少選擇5個校準點，均勻分布在量程內(nèi)(如0mm、50mm、100mm、150mm、200mm)。
 

　　操作步驟：
 

　　將標準量塊(如5mm、10mm、20mm等)放置在平臺上。
 

　　用高度卡尺測量量塊高度，記錄卡尺示值。
 

　　計算示值誤差：誤差 = 卡尺示值 - 量塊標準值(示例：量塊標準值10.000mm，卡尺示值10.002mm，誤差為+0.002mm)。
 

　　誤差需在允許范圍內(nèi)(如精度等級為0.02mm的卡尺，允許示值誤差≤±0.02mm)。
 

　　重復(fù)性校準
 

　　在同一校準點(如100mm)重復(fù)測量5次。
 

　　記錄每次示值，計算最大值與最小值之差(示例：測量值100.001mm、100.002mm、100.001mm、100.002mm、100.001mm，重復(fù)性誤差為0.001mm)。
 

　　重復(fù)性誤差需滿足要求(如≤0.005mm)。
 

　　平行度校準
 

　　將卡尺固定在平臺上，測量爪分別接觸兩個平行平面(如量塊側(cè)面)。
 

　　記錄測量值，計算平行度誤差。
 

　　誤差需在允許范圍內(nèi)(如≤0.03mm)。
 

　　三、結(jié)果處理
 

　　誤差調(diào)整
 

　　若誤差超出允許范圍，需調(diào)整卡尺(如微調(diào)零位螺絲、清潔測量爪)。
 

　　調(diào)整后重新校準，直至誤差符合要求。
 

　　記錄與報告
 

　　記錄校準日期、環(huán)境條件、校準人員、校準點、標準值、卡尺示值、誤差值、是否合格及調(diào)整情況。
 

　　出具校準證書，注明有效期(通常為1年)。
 

　　不合格處理
 

　　對不合格卡尺進行維修或報廢。
 

　　定期(如每月)進行簡單核查，確保長期穩(wěn)定性。